RU | ENG | 中文
RU | ENG | 中文
Кнопка поиска

Установка контроля привнесенной дефектности (AURA-S)

 /   /   / 
Установка контроля привнесенной дефектности (AURA-S)
Установка контроля привнесенной дефектности (AURA-S)
Параметры

Значения

Диаметр обрабатываемых пластин

100 мм, 150 мм, 200 мм

Тип порта  SMIF-контейнер 200 мм, в т.ч. адаптированный под пластины 150 мм. Открытые кассеты 100 мм, 150 мм, 200мм
Количество портов, шт.   от 1 до 3
Минимальный размер дефекта

80 нм (для непрозрачных материалов)

300 нм (для сапфира)

Точность определения положения дефекта

±50 мкм

Вероятность обнаружения дефекта   95%
Вес

500 кг

Производительность

от 15 пластин/час

Габариты (ДхШхВ)

1100 х 1100 х 1920 мм 

В установке Aura S загрузка-выгрузка пластин осуществляется в автоматизированном режиме и обеспечивается без переналадки. Работа с открытыми кассетами для пластин 100, 150 и 200 мм, SMIF-контейнерами для пластин 200 мм и адаптированными под пластины 150 мм.

Состав оборудования 

- Блок автоматизированной загрузки-выгрузки пластин из открытых кассет и/или SMIF контейнеров. Блок обеспечивает поштучную подачу пластин из кассеты на столик контрольно-измерительного модуля и обратно
- Детектирование размера пластин
- Картирование размещения пластин в кассетах
- Контроль наличия сдвоенных и косо вставленных пластин в кассете
- Контрольно-измерительного модуля. Модуль, предназначен для контроля и измерения светорассеивающих дефектов на поверхностях полупроводниковых пластин и пластин из сапфира. Он позволяет определить количество, положение и размеры частиц, а также оценить царапины и матовость поверхности.
- Блока автоматизированного управления
- Системы анализа и обработки данных
- Модуля поддержания чистоты воздуха класса 4 ИСО в зоне перемещения пластин и проведения измерений

У Вас возникли вопросы? Пожалуйста, отправьте нам сообщение!