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引入缺陷控制设备 (Equipment for control of introduced defects)

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引入缺陷控制设备 (Equipment for control of introduced defects)
AURA-О引入缺陷控制设备,支持手动装载晶片
引入缺陷控制设备(AURA-O)
在Aura S设备中,晶片的装卸采用自动化模式,无需重新调整即可实现。支持使用100、150和200毫米晶片的开放式晶片匣、200毫米晶片的SMIF晶片盒以及适配150毫米晶片的晶片盒。
引入缺陷控制设备 (AURA-S)
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