参数 |
参数值 |
Diameter of processed wafers |
100 (SEMI M1.11) / 150 (SEMI M1.13) |
装卸口数量 |
2 |
工艺站数量 |
5 |
总容积截止时工艺站的绝对压力限值 (帕) |
≤ 1·10-5 |
技术 |
清洗、蚀刻、沉积、热处理 |
用途 |
在一个真空周期中实现半导体晶片加工技术 |
设备包括 |
◦ 5 个集成工艺站,用于清洗、蚀刻、涂层沉积或热处理。可根据要求提供工艺站配置. |
设备运行特点 |
传送箱容纳了移动机制,其确保晶片从一个处理位置同步移动到另一个处理位置。人工或自动将晶片/容器装入装卸口,然后将晶片传送到传送转盘,依次通过所有处理站,并卸载回来。 工艺站包括一个独立高真空泵的密封机构、一个放置晶片的升降台和一个带有加工装置的铰链盖。 工艺站容积的全真空隔离,可在压力和工作气体成分不相同的情况下进行技术处理,而不会相互影响。每个站都配有独立的泵和工艺气体控制系统。作为一种加工装置,这些站配备了磁控管、高密度感应等离子源、离子源等。 |